对于相同频率的记忆,时间越短越好。
CL-TRCD-TRP(11-11-11)显示11小时的时间。1600Mhz内存的默认时间为11-11-11,1333Mhz的默认时间为9-9-。9,所以1600Mhz9-9-9内存比1600Mhz11-11-11内存更快。除了通常的超频,将频率从1333更改为1600Mhz外,专家还更改了时间。
基本说明
一般数字“A-B-C-D”对应的参数为“CL-tRCD-tRP-tRAS”,其含义为:CASLatency。(简称CL值)内存CAS延迟时间,这是内存的重要参数之一,RAS-to-CASDelay(tRCD),即内存行上的CL值地址传输到列地址上的延迟时间。
RASPrechargeDelay(tRP),存储器行地址选通脉冲预充电时间,RowActiveDelay(tRAS),存储器行地址选通延迟。这些是游戏玩家最关心的四重调整,可以在大多数计划推出低于JEDEC认证要求的低延迟内存模块的内存模块的BIOS中进行配置。
相同频率设置下,最小排序时间“2-2-2-5”的内存模块实际上比从3开始的“3-4-4-8”内存性能更高最多5个百分点。
内存时序高表示系统性能低且延迟高,这会对计算机的性能产生一些影响。
内存时间越低通常意味着性能越快。决定系统性能的最后一个因素是有效延迟,通常以纳秒为单位。
内存时序是描述内存模块性能的参数。它通常保存在存储模块的spd中,称为cl值,是存储器的重要参数之一。有些内存品牌会在内存条标签上打印cl值,目前一般较好的内存条都会在参数中标注cl值。
一般来说,时序是决定内存性能的一个参数,但这并不意味着时序越低,性能就越好。它还取决于存储容量和频率。只能说,两个容量、频率相同的存储器之间,时序越短,性能越好。
扩展信息:
内存时序的具体含义:
内存时序是一个描述模块性能的参数内存,通常存储在内存中。在模块的spd中,通用数字“a-b-c-d”对应的参数为“cltrcdtrptras”,其含义如下:
1列寻址(表示延迟时长)
事实上,在相同频率下,cl值越低,内存条的性能越好。随着内存条频率的提高,ddr1-4的cl值越来越大,但其有效cl延迟时间变化很小。这意味着cl值越大,存储模块的cl延迟越长,并且存储模块的cl延迟越差。相反,ddr1-4的cl值越高,增加的频率越高。
:行寻址和列寻址的时钟周期之间的差异
TrCD的值对内存模块想要达到的频率的最大内存频率影响最大,但如果不可能提高电压,降低cl值,只能提高trcd值。
现在的DDR4一般都是1.2V,如果你想让CL好看,如果你想让内存条超频到更高的水平,就增加TRCD,如果你想要灯光效果,就增加时序。因此,大的trcd并不意味着内存模块不好,而是意味着内存模块可以超过非常高的频率。
:下一个周期之前需要预加载的时钟周期
虽然TRP的影响会随着银行操作的频繁而增加,但其影响也会根据银行的活动而变化。频繁操作。因交叉操作和指令提供而被削弱。放宽trp,有利于提高行地址激活和关闭的命中率和准确度,放宽trp,使内存模块兼容性更强。
:存储一行数据时,从开始操作到寻址结束的总时间。
此操作很少发生,仅在内存空闲或启动新任务时使用。如果trans值太小,会导致错误或数据丢失。如果该值太大,会影响内存性能。如果内存模块负载较高,则可以稍微放宽trans值。
参考来源:--内存时序